하나의 백색 광 조명은 형광 관찰의 다양한 형식을 지원합니다.

백색 광 TIRF 시스템은 수은 램프를 사용하여 TIRF 현미경으로 사용할 수 있습니다. 제한된 깊이에서 여기된 TIRF에 의해 반사 형광 방법 보다 훨씬 더 높은 신호 대 잡음(S/N)비와 형광 이미지의 획득이 가능하다. TIRF 시스템 및 반사 형광 시스템의 통합적으로 사용 가능하다.

○ 백색 광 TIRF 시스템.

○ 경사 광 형광.

○ 반사 형광.

○ 표면 반사 간섭 차(SRIC) 방법

모든 모드에서 동일한 광원을 사용하고 전환이 간단합니다.

* TIRF 보다 약간 더 입사광의 각도를 늘리면 커버 글라스 근처 영역에서 관찰 범위를 깊게 허용한다.

클라트린 피복 소포 이미지

반사 형광 이미지

백색 광 TIRF 이미지

시료 : COS 세포에서 발현된 GFP-태그 클라 트린
이미지 제공 : Images courtesy of Daniel Axelrod Ph,D., University of Michigan and Stephen Ross, Ph,D

다중 파장 이미지 획득이 용이

이 시스템은 다양한 파장에서의 TIRF 관찰, 간단한 필터 교환, 수은 형광 관찰 등의 넓은 파장 범위를 갖는 광원을 사용한다

니콘의 높은 개구수(N.A.)의 TIRF 대물렌즈는 커버글라스와 시편의 경계면에 인접하여 소멸파를 생성된을 가능하게 한 TIRF로 임계각(θc)보다 큰 입사각에 레이저 조녕을 입사할 수 있습니다. 소멸파는 시료의 수 백 나노미터에 도달하면 에너지가 기하 급수적으로 감소한다. 니콘의 레이저 TIRF 시스템은 커버 글라스에 접촉면의 얇은 단에서 단 분자를 여기 시키는데, 이 소멸파를 이용한다. 시료는 소멸파를 넘어서 여기가 되지 않기 때문에, 이 이미징 시스템은 매우 높은 신호 대 잡음 (S/N) 비로 형광 이미지를 획득할 수 있다.

이러한 대물렌즈는 커버 글라스의 두께와 온도 변화에 대한 보정 링을 통합한 세계 최초의 오일 이머젼 방식 대물렌즈이다. 그 보정 고리를 회전시킴으로써, 연구자들은 쉽게 커버 글라스 두께 차의 영향과 오일 이머젼의 굴절률에서의 온도에 의해 유발된 변화에 따른 이미지 품질에 구면 수차의 부정적인 영향을 제거할 수 있다. 렌즈는 23℃ (실온)에서 37℃ (생리적인 온도)의 범위에 대해 보정되었다. 또한, 이러한 대물렌즈는 미세 간섭 차(D.I.C.), 반사 형광 공 초점 및 디컨볼루션(Deconvolution) 이미징에서 환상적인 이미지를 제공하고 레이저 핀셋을 이용하여 여러 응용 중에 강한 트래핑 능력을 제공한다.

표면 반사 간섭 차(SRIC) 방법은 전 반사 형광(TIRF)의 전환 이전 초점을 나타나게 할 수 있다

세포가 유리에서 떨어져있는 경우 TIRF 관찰할 수 없습니다. 니콘의 독자적인 표면 반사 간섭 관찰에서는 유리 접착면을 검게 관찰할 수 있기 때문에 TIRF 관찰 앞에 세포 접착의 유무를 확인하는 것이 가능합니다. 여기 광을 조사하지 않기 때문에 시료의 손상이 적고, 포커싱도 여유있게 할 수 있습니다. 레이저 TIRF와 백색광 TIRF의 전환도 필터 터렛을 전용 필터로 바꾸는 간단한 작업입니다.

레이저 TIRF 이미지

SRIC 이미지